上海精科 紫外分光光度計 UV-757CRT

上海精科 紫外分光光度計 UV-757CRT

附電腦、打印機

UV757係列紫外可見分光光度計能在紫外、可見光譜區域內(nei) 對樣品物質作定性和定量的分析。主機功能：
采用微機測量係統，τ-A轉換精確，自動調整0%（τ）和調整*（τ），具有GOTOλ，自動8聯樣品架，自動扣除比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和截距設置等功能，具有RS232接口和並行打印口（打印機，另行選配）。

聯機功能：
通過RS232串行接口，可利用上層軟件作全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程（1次、2次、3次），多波長測試，並大大擴展測試功能（除主機功能外）。
上海精科 紫外分光光度計 UV-757CRT

技術指標：
◆波長範圍：200nm～1000nm
◆光源：鎢鹵素燈12V20W（進口） DD2.5氘燈（進口）
◆接收元件：光電池
◆波長zui大允許誤差：±0.5nm
◆波長重複性：≤0.2nm
◆光譜帶寬：2nm
◆雜散光：≤0.3%（τ）（在220nm以Nal測定和340nm處以NaNO2測定）
◆透射比測量範圍：0.0%（τ）～200.0% (τ）
◆吸光度測量範圍：-0.301（A）～4.000(A)
◆透射比zui大允許誤差：±0.5%（τ）
◆透射比重複性：≤0.2%（τ）
◆噪聲：*噪聲≤0.5%（τ） 0%噪聲≤0.2%(τ)
◆穩定性：≤0.004A/30min

其它：
◆電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz

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